Teste conduzido por entusiasta demonstrou que unidade de armazenamento antiga ultrapassou em 25 vezes o limite de resistência estipulado pelo fabricante.
Um experimento conduzido por um entusiasta de tecnologia demonstrou a notável durabilidade de um componente antigo de hardware. Um modelo de SSD SanDisk P4, lançado há 16 anos com a antiga interface SATA II, conseguiu registrar um petabyte de dados em gravações contínuas.
O volume de informações gravadas na unidade de estado sólido foi 25 vezes superior à classificação oficial de resistência do equipamento. Essa métrica, conhecida como TBW (Terabytes Written), indica a quantidade de dados que o fabricante garante que o dispositivo pode suportar antes de apresentar falhas estruturais ou perda de capacidade.
O feito chama atenção por envolver uma tecnologia considerada obsoleta pelos padrões atuais de mercado. As interfaces de armazenamento evoluíram significativamente desde o lançamento do modelo testado, mas o experimento evidencia que o limite de gravação estipulado pelas fabricantes muitas vezes serve como uma garantia conservadora, distante do real ponto de quebra do hardware.
Apesar de a unidade ter ultrapassado a marca de um petabyte, o teste não detalhou o estado atual de setores corrompidos ou a degradação da velocidade de transferência, efeitos comuns em processos de desgaste extremo de memórias flash. O resultado, no entanto, fornece dados empíricos sobre a longevidade de unidades de armazenamento sólido submetidas a cargas de trabalho massivas.
Um modelo antigo de SSD SanDisk P4, lançado há 16 anos, conseguiu registrar 1 petabyte de dados em gravações contínuas durante um teste de durabilidade.
TBW (Terabytes Written) é a métrica que indica a quantidade de dados que o fabricante garante que o dispositivo pode suportar antes de falhar. No teste, o SSD ultrapassou em 25 vezes o limite de TBW estipulado pelo fabricante.
Não. Apesar de o SSD ter ultrapassado a marca de um petabyte, o teste não detalhou o estado atual de setores corrompidos ou a degradação da velocidade de transferência, efeitos comuns no desgaste extremo de memórias flash.